聚焦离子束（FIB）
FIB（聚焦离子束）技术在芯片分析中扮演着至关重要的角色，尤其在芯片失效分析方面展现了其强大的功能。FIB技术通过在纳米尺度上对芯片进行精确加工和分析，成为解决复杂芯片失效问题的关键工具。其高精度、灵活性和及时性使得工程师能够准确地定位失效点，分析失效原因，从而为芯片的改进和优化提供有力依据。
2025-11-17
