ESD测试

半导体测试是贯穿半导体产业链的核心环节，涉及芯片设计、晶圆制造和封装过程，确保产品良率。在芯片测试过程中，ESD测试指标是反映芯片可靠性的关键指标。

ESD是Electro-Static discharge的缩写，意为静电放电。静电特点为高电压、低电量、小电流和短作用时间。在电子设备中，随着工艺日益先进，微型电子零件和芯片可能会受到巨大的ESD事件的影响。现在即使很微小的静电放电也可能对这些元件造成致命的损坏，导致性能下降，甚至完全失效。因此，为了保证设备的可靠性和稳定性，进行芯片的ESD测试是必不可少的。ESD测试的目的是为了评估芯片对静电放电的抵抗能力，在大家约定好的标准范围内，确保在生产过程中芯片遇到ESD事件时不会受到损坏。

静电放电发生器

测试座

ESD失效开盖分析

ESD失效热成像分析